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熱搜關(guān)鍵詞:拉曼光譜儀,光纖光譜儀,熒光光譜儀,地物光譜儀 | 
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高性能光纖光譜儀

型 號ATP5104

所屬分類(lèi)高性能光纖光譜儀

報價(jià)

產(chǎn)品描述:ATP5104-紫外增強高性能光纖光譜儀 ATP5104是奧譜天成針對紫外光譜,特別研制的高性能紫外增強型微型光纖光譜儀,它采用3072像素的紫外增敏線(xiàn)性CCD,可以適應165-1100nm波長(cháng)范圍的測試,CCD檢測器曝光時(shí)間可以控制在1ms之內

產(chǎn)品概述

ATP5104-紫外增強高性能光纖光譜儀

產(chǎn)品概述

    ATP5104是奧譜天成針對紫外光譜,特別研制的高性能紫外增強型微型光纖光譜儀,它采用3072像素的紫外增敏線(xiàn)性CCD,可以適應165-1100nm波長(cháng)范圍的測試,CCD檢測器曝光時(shí)間可以控制在1ms之內,同時(shí),奧譜天成為ATP5104特別定制了超低噪聲CCD信號處理電路,其量化噪聲小于3 counts,為業(yè)界*水平,可以幫助您可以獲得*的光譜信噪比。

 

  ATP5104是紫外、可見(jiàn)、近紅外光譜應用的理想選擇,有不同的狹縫、光柵、反射鏡、濾光片可以選擇,可以根據您的需求,配置適合不同應用場(chǎng)合的光譜儀,光譜范圍從165nm起至1050nm,光譜分辨率可在0.5到4.0nm之間選擇,奧譜天成也可為OEM客戶(hù)提供定制選擇。

 ATP5104可以接收SMA905接口光纖輸入或者自由空間輸入的待測光,根據設定的積分時(shí)間進(jìn)行測量,將測量結果通過(guò)USB2.0(高速)或者UART輸出;

ATP5104-紫外增強高性能光纖光譜儀

特點(diǎn):

  • 紫外增強高性能背照式CCD

  • 專(zhuān)門(mén)針對紫外優(yōu)化的光路和結構;

  • 探測器:背照式CCD

  • 探測器像素:3072

  • 超低噪聲CCD信號處理電路

  • 光譜范圍: 165-1100 nm

  • 光譜分辨率: 0.1-4 nm(取決于光譜范圍、狹縫寬度)

  • 光路結構:交叉C-T

  • 積分時(shí)間:2ms-130s

  • 供電電源:DC 5V±10% @ <2.3A

  • 18 bit, 570KHz A/DConverter

  • 光輸入接口:SMA905或自由空間

  • 數據輸出接口: USB2.0(High speed)或UART

  • 20針雙排可編程外擴接口

ATP5104-紫外增強

典型應用:

  • 拉曼光譜儀

  • 微量、快速分光光度計;

  • 光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析

  • 透過(guò)率、吸光度檢測;

  • 反射率檢測;

  • 紫外、可見(jiàn)和短波近紅外

  • 波長(cháng)檢測

探測器

類(lèi)型

線(xiàn)陣背照式CCD

探測光譜范圍

165-1100 nm

有效像素

3072

像元尺寸

600μm×8μm

全量程范圍

~200 ke-

靈敏度

6.5 uV/e-

暗噪聲

6 e-

光學(xué)參數

波長(cháng)范圍

165-1100 nm

光學(xué)分辨率

0.1-4  nm (取決于狹縫、光譜范圍)

性噪比

>1000:1

動(dòng)態(tài)范圍

3000:1

工作溫度

-10-40 oC

工作濕度

< 85%RH

光路參數

光學(xué)設計

f/4 交叉非對稱(chēng)C-T光路

焦距

40 mm for incidence / 60 mm for  output

入射狹縫寬度

5、10、25、50、100、150、200 μm 可選,其他尺寸可定制

入射光接口

SMA905光纖接口、自由空間

電氣參數

積分時(shí)間

1 ms - 130 second

數據輸出接口

USB 2.0

ADC位深

18  bit

供電電源

DC 5V±10%

工作電流

<2.3A

存儲溫度

-20°C  to +70°C

操作溫度

-10°C  to +40°C

物理參數

尺寸

102×720×34 mm3

重量

0.3 kg

Sealing

Anti-sweat

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